ICS 31. 080. 1 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.2—2006/IEC 60749-2:2002 部分代替GB/T4937—1995 半导体器件机械和气候试验方法第2部分：低气压 Semiconductor devicesMechanical and climatic test methods- Part 2:Low air pressure (IEC 60749-2:2002,IDT) 2006-08-23 发布 2007-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会中华人民共和国国家标准半导体器件机械和气候试验方法第2部分：低气压 GB/T4937.2—2006/IEC60749-2:2002 * 中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码：100045 http://www. spc. net. cn 电话：（010)51299090、68522006 2007年1月第一版 * 书号：155066·1-27687 版权专有侵权必究举报电话：（010)68522006

GB-T 4937.2-2006 半导体器件机械和气候试验方法第2部分低气压

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